芯片老化試驗箱
發(fā)布日期：2020/11/5 14:36:44 點擊次數：2743
產品特點
SATAI/II/III 的測試
ISATA,PCIE的測試片數定制化，例如 96片、156片、216片、316片等等
溫度范圍可選-70度~ + 180度的測試
具備異常斷電測試和老化測試
自動化溫控測試
全部采用軟件進行智能化控制測試
可個性化定制測試軟件
快速升降溫控制
支持 PCIE/EMMC/UFS/DRAM/-Flash老化的定制化測試
網絡化控制，可以異地控制測試并看測試結果
可開發(fā)APP遠程控制測試
性能技術指標
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型號
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TYCT-300
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溫度控制范圍
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RT
+ 5℃~ + 150℃可選
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融分布均勻度（空載）
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±2℃
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測試數量
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300片可選
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電源
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220VAC ±10%, 50HZ
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